"ИССЛЕДОВАНИЕ НАНОСТРУКТУР ZNSXSE1-X@AL2O3 МЕТОДАМИ РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИФРАКЦИИ И EXAFS СПЕКТРОСКОПИИ"
"А.И. Чукавин1, Р.Г. Валеев1, Я.В. Зубавичус2, А.Л. Тригуб2,1, А.Н. Бельтюков1"
"1Физико-технический институт УрО РАН, Ижевск, Россия
andrey_chukavin@mail.ru
2Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт", Москва, Россия"
Ключевые слова: ZnSSe, наноструктуры, EXAFS, рентгеновская дифракция, нанопористый анодный оксид алюминия, термическое напыление, nanostructures, X-ray diffraction, nanoporous anodic alumina, thermal deposition
Страницы: 1285-1294
Аннотация
Нанокомпозитные системы на основе тройных полупроводниковых соединений ZnSx Se1-x различного состава (x = 0, 0,3, 0,5, 0,7, 1) в диэлектрических матрицах нанопористого анодного оксида алюминия (ААО) были синтезированы методом высоковакуумного термического распыления смеси порошков сульфида и селенида цинка. Исследовано влияние атомной концентрации твердых растворов и структурных параметров матрицы-темплата ААО на кристаллическую структуру синтезированных нанокомпозитов и локальное атомное окружение атомов Zn и Se.
DOI: 10.15372/JSC20170623
|
