Издательство СО РАН

Издательство СО РАН

Адрес Издательства СО РАН: Россия, 630090, а/я 187
Новосибирск, Морской пр., 2

soran2.gif

Baner_Nauka_Sibiri.jpg


Яндекс.Метрика

Array
(
    [SESS_AUTH] => Array
        (
            [POLICY] => Array
                (
                    [SESSION_TIMEOUT] => 24
                    [SESSION_IP_MASK] => 0.0.0.0
                    [MAX_STORE_NUM] => 10
                    [STORE_IP_MASK] => 0.0.0.0
                    [STORE_TIMEOUT] => 525600
                    [CHECKWORD_TIMEOUT] => 525600
                    [PASSWORD_LENGTH] => 6
                    [PASSWORD_UPPERCASE] => N
                    [PASSWORD_LOWERCASE] => N
                    [PASSWORD_DIGITS] => N
                    [PASSWORD_PUNCTUATION] => N
                    [LOGIN_ATTEMPTS] => 0
                    [PASSWORD_REQUIREMENTS] => Пароль должен быть не менее 6 символов длиной.
                )

        )

    [SESS_IP] => 3.235.236.13
    [SESS_TIME] => 1621124106
    [BX_SESSION_SIGN] => 9b3eeb12a31176bf2731c6c072271eb6
    [fixed_session_id] => d907570e0c85473e6e45bd6130dda2f8
    [SALE_USER_ID] => 0
    [UNIQUE_KEY] => 4c2ac2dbb618eb9f89a00bde3e2a16e4
    [BX_LOGIN_NEED_CAPTCHA_LOGIN] => Array
        (
            [LOGIN] => 
            [POLICY_ATTEMPTS] => 0
        )

)

Поиск по журналу

Автометрия

2015 год, номер 6

ВЫСОКОЭФФЕКТИВНЫЙ ДИФРАКЦИОННЫЙ ПОВОРОТНЫЙ ФОКУСИРУЮЩИЙ ЭЛЕМЕНТ

Г.А. Ленкова
Институт автоматики и электрометрии СО РАН, 630090, г. Новосибирск, просп. Академика Коптюга, 1
lenkova@iae.nsk.su
Ключевые слова: поворотный фокусирующий элемент, дифракционная структура, эффективность, световые потери, deflecting focusing element, diffractive structure, efficiency, light loss
Страницы: 32-40
Подраздел: ОПТИЧЕСКИЕ ИНФОРМАЦИОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ

Аннотация

Проведены исследования формы дифракционной структуры киноформного поворотного элемента, предназначенного для фокусировки мощных лазерных пучков с длиной волны 10,6 мкм. Получены формулы для расчёта световых потерь, вызванных наклоном падающего пучка, дифракцией и технологическим размытием крутого склона структуры. Показано, что высота структуры должна изменяться от минимального до максимального значения в зависимости от азимутального угла. Определено, что световые потери, вызванные затенением из-за наклонного падения лучей, достаточно низкие (0,6-1,3 %), а из-за дифракции - на порядок меньше и могут не учитываться. Потери, обусловленные технологическим размытием склона и отклонением высоты структуры от расчётного значения (при несоблюдении азимутальной зависимости), могут быть выше 10 %.