Издательство СО РАН

Издательство СО РАН

Адрес Издательства СО РАН: Россия, 630090, а/я 187
Новосибирск, Морской пр., 2

soran2.gif

Baner_Nauka_Sibiri.jpg


Яндекс.Метрика

Array
(
    [SESS_AUTH] => Array
        (
            [POLICY] => Array
                (
                    [SESSION_TIMEOUT] => 24
                    [SESSION_IP_MASK] => 0.0.0.0
                    [MAX_STORE_NUM] => 10
                    [STORE_IP_MASK] => 0.0.0.0
                    [STORE_TIMEOUT] => 525600
                    [CHECKWORD_TIMEOUT] => 525600
                    [PASSWORD_LENGTH] => 6
                    [PASSWORD_UPPERCASE] => N
                    [PASSWORD_LOWERCASE] => N
                    [PASSWORD_DIGITS] => N
                    [PASSWORD_PUNCTUATION] => N
                    [LOGIN_ATTEMPTS] => 0
                    [PASSWORD_REQUIREMENTS] => Пароль должен быть не менее 6 символов длиной.
                )

        )

    [SESS_IP] => 3.239.56.184
    [SESS_TIME] => 1621286690
    [BX_SESSION_SIGN] => 9b3eeb12a31176bf2731c6c072271eb6
    [fixed_session_id] => 11da531c89af0995013c0fd66f432ce0
    [SALE_USER_ID] => 0
    [UNIQUE_KEY] => 5a8e2d03df55cb8b1abd7e8c6cd516f5
    [BX_LOGIN_NEED_CAPTCHA_LOGIN] => Array
        (
            [LOGIN] => 
            [POLICY_ATTEMPTS] => 0
        )

)

Поиск по журналу

Журнал структурной химии

2014 год, номер Приложение 1

МЕТОДИКА РЕНТГЕНОДИФРАКТОМЕТРИЧЕСКОГО ИССЛЕДОВАНИЯ СРОСТКОВ КРИСТАЛЛОВ

А.В. Панченко1,2, Н.Д. Толстых3, С.А. Громилов1,2
1Институт неорганической химии им. А.В. Николаева СО РАН, 630090 Россия, Новосибирск, пр. Акад. Лаврентьева, 3
grom@niic.nsc.ru
2Новосибирский государственный университет, 630090 Россия, новосибирск, ул. Пирогова, 2
3Институт геологии и минералогии СО РАН, Новосибирск, 630090 Россия, Новосибирск, пр. Акад. Коптюга, 3
Ключевые слова: рентгеновская дифрактометрия, метод Дебая-Шеррера, CCD-детектор, рентгеновская дифрактомерия, минералы
Страницы: 24-29
Подраздел: МЕТОДИКА ИССЛЕДОВАНИЯ

Аннотация

Представлен ряд методик проведения рентгенографического исследования сростков кристаллов на современных дифрактометрах, оснащенных плоскими CCD–детекторами. В основе методик лежит получение серии дифракционных картин в схеме Дебая–Шеррера. Обсуждается точность измерения межплоскостных расстояний и параметров элементарных ячеек с использованием внешних и внутренних эталонов.