ИЗМЕРИТЕЛЬ ТЕМПЕРАТУРНЫХ ЗАВИСИМОСТЕЙ ХАРАКТЕРИСТИК ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ СТРУКТУР
В.Н. Вьюхин, Ю.А. Попов
Институт автоматики и электрометрии СО РАН, 630090, г. Новосибирск, просп. Академика Коптюга, 1 vvn@iae.nsk.su
Ключевые слова: измерительные цепи, измерительная головка, полупроводниковые структуры, дельта–сигма-АЦП, усилитель
Страницы: 65-70 Подраздел: АНАЛИЗ И СИНТЕЗ СИГНАЛОВ И ИЗОБРАЖЕНИЙ
Аннотация
Представлен разработанный прибор для исследования температурной зависимости малосигнальной ёмкости и тока полупроводниковых структур в диапазоне от –180 до +300 ºС.
|