Издательство СО РАН

Издательство СО РАН

Адрес Издательства СО РАН: Россия, 630090, а/я 187
Новосибирск, Морской пр., 2

soran2.gif

Baner_Nauka_Sibiri.jpg


Яндекс.Метрика

Array
(
    [SESS_AUTH] => Array
        (
            [POLICY] => Array
                (
                    [SESSION_TIMEOUT] => 24
                    [SESSION_IP_MASK] => 0.0.0.0
                    [MAX_STORE_NUM] => 10
                    [STORE_IP_MASK] => 0.0.0.0
                    [STORE_TIMEOUT] => 525600
                    [CHECKWORD_TIMEOUT] => 525600
                    [PASSWORD_LENGTH] => 6
                    [PASSWORD_UPPERCASE] => N
                    [PASSWORD_LOWERCASE] => N
                    [PASSWORD_DIGITS] => N
                    [PASSWORD_PUNCTUATION] => N
                    [LOGIN_ATTEMPTS] => 0
                    [PASSWORD_REQUIREMENTS] => Пароль должен быть не менее 6 символов длиной.
                )

        )

    [SESS_IP] => 52.23.219.12
    [SESS_TIME] => 1638804470
    [BX_SESSION_SIGN] => 9b3eeb12a31176bf2731c6c072271eb6
    [fixed_session_id] => 088265ad44c2360782e33434906a0c83
    [UNIQUE_KEY] => 4f05fab5f8842c6ad3b3cc806af33c64
    [BX_LOGIN_NEED_CAPTCHA_LOGIN] => Array
        (
            [LOGIN] => 
            [POLICY_ATTEMPTS] => 0
        )

)

Поиск по журналу

Автометрия

2011 год, номер 6

АНАЛИЗ СХЕМ ГЕНЕРАЦИИ ДИНАМИЧЕСКОЙ СЦЕНЫ В ЗАДАЧАХ ТЕСТИРОВАНИЯ ТЕПЛОВИЗИОННЫХ ПРИБОРОВ

И. С. Гибин1, Г. В. Колесников2, Е. С. Нежевенко1
1 Учреждение Российской академии наук Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения РАН
2 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Новосибирский государственный технический университет»
gibin@iae.nsk.su, nejevenko@iae.nsk.su
Ключевые слова: генерация динамической сцены в инфракрасном диапазоне, тестирование тепловизионных приборов, измерительные стенды
Страницы: 34-38

Аннотация

Дан краткий обзор систем тестирования тепловизионных приборов. Представлены распространённые способы получения динамической сцены в инфракрасном диапазоне, используемые в системах тестирования, и их основные параметры. Приведены примерные схемы построения подобных систем, основанные на массивах управляемых микрозеркал и излучающих элементов. Проведён сравнительный анализ наиболее распространённых систем тестирования.