Издательство СО РАН

Издательство СО РАН

Адрес Издательства СО РАН: Россия, 630090, а/я 187
Новосибирск, Морской пр., 2

soran2.gif

Baner_Nauka_Sibiri.jpg


Яндекс.Метрика

Поиск по журналу

Теплофизика и аэромеханика

2026 год, номер 4

Линия фазового равновесия ртути с привлечением уравнения Клапейрона - Клаузиуса и ренормализационной группы

С.В. Рыков1, И.В. Кудрявцева2, В.А. Рыков2
1Санкт-Петербургский государственный университет промышленных технологий и дизайна, Санкт-Петербург, Россия
togg1@yandex.ru
2Университет ИТМО, Санкт-Петербург, Россия
165627@niuitmo.ru
Ключевые слова: ртуть, давление, критическая амплитуда, плотность, теплота парообразования, средний диаметр, линия фазового равновесия
Страницы: 629-644

Аннотация

На основе системы взаимосогласованных уравнений, включающей уравнения для давления и плотности насыщенного пара, плотности насыщенной жидкости, «кажущейся» теплоты парообразования, описана линия фазового равновесия ртути в диапазоне температур от тройной точки до критической. Уравнение линии упругости в рамках предложенного подхода удовлеворяет требованиям масштабной теории критической точки, а линия насыщения разработана с привлечением уравнения Клапейрона - Клаузиуса, среднего диаметра и параметра порядка ренормализационной группы. Все перечисленные уравнения согласованы по критическим индексам и параметрам. В рамках предложенной модели линии фазового равновесия ртути все компоненты уравнений, описывающие паровую и жидкостную ветви кривой сосуществования, имеют показатели степени, которые рассчитаны с привлечением теории скейлинга. Предложенная система взаимосогласованных уравнений передает экспериментальные данные о давлении насыщенного пара, плотности насыщенных пара и жидкости с меньшей неопределенностью, чем уравнения Фокина Л.Р. и др. (2011), Апфельбаума E.M. и Воробьева В.С. (2015), включая опытные данные о давлении насыщенного пара (Schönherr G., Hensel F., 1981) и плотности на линии насыщения (Кожевников В.Ф. и др., 1991), относящиеся к широкой окрестности критической точки.

DOI: 10.63430/TIA202604003
Добавить в корзину
Товар добавлен в корзину