ТЕПЛОВИЗИОННЫЙ МИКРОСКОП НА БАЗЕ МНОГОЭЛЕМЕНТНЫХ ИК ФПУ
И.И. Ли, В.Г. Половинкин
Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск, Россия pvg@isp.nsc.ru
Ключевые слова: фотоприёмное ИК-устройство, микроскоп, устройство считывания, температурное разрешение, спектральный диапазон
Страницы: 129-136
Аннотация
Предложен проект инфракрасного (ИК) микроскопа, регистрирующего собственное тепловое излучение объектов. Проведён анализ температурного разрешения ИК-микроскопа в зависимости от параметров оптической системы, конструктивных и фотоэлектрических параметров многоэлементных ИК ФПУ.
DOI: 10.15372/AUT20220514 |