СТРУКТУРНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ НАНОМАТЕРИАЛОВ МЕТОДОМ РАДИАЛЬНОГО РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОННОЙ ПЛОТНОСТИ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ПРОСВЕЧИВАЮЩЕЙ ДИФРАКТОМЕТРИИ НА СИНХРОТРОННОМ ИЗЛУЧЕНИИ
У.В. Анчарова1, В.П. Пахарукова2,3, А.А. Матвиенко1,3, С.В. Цыбуля2,3
1Институт химии твердого тела и механохимии СО РАН, 630128 Россия, Новосибирск, ул. Кутателадзе, 18
2Институт катализа им. Г.К. Борескова СО РАН, 630090 Россия, Новосибирск, пр. Акад. Лаврентьева, 5
3Новосибирский национальный исследовательский государственный университет, 630090 Россия, Новосибирск, ул. Пирогова, 2
Ключевые слова: синхротронное излучение, рентгеновская дифракция, радиальное распределение электронной плотности, нанокристаллические материалы, локальная структура, synchrotron radiation, X-ray diffraction, radial electron density distribution, nanocrystalline materials, local structure
Страницы: 1129-1136
Аннотация
Показана эффективность применения методики просвечивающей дифрактометрии, реализуемой с использованием синхротронного излучения накопителя ВЭПП-3, для получения функций радиального распределения электронной плотности (РРЭП). На примере плохо окристаллизованного образца оксалата церия показаны возможности получаемых функций РРЭП в структурной диагностике рентгеноаморфных материалов: зафиксирована фаза оксалата, выявлены особенности локальной структуры и определен размер области атомарного упорядочения.
DOI: 10.15372/JSC20150608 |
