ДЕФЕКТЫ В КУБИЧЕСКИХ АЛМАЗАХ ИЗ РОССЫПЕЙ СЕВЕРО–ВОСТОКА СИБИРСКОЙ ПЛАТФОРМЫ ПО ДАННЫМ ИК–МИКРОСПЕКТРОСКОПИИ
С.В. Титков1,2, А.А. Ширяев1,3, Н.Н. Зудина2, Н.Г. Зудин4, Ю.П. Солодова2
1Институт геологии рудных месторождений, петрографии, минералогии и геохимии РАН, 119017, Москва, Старомонетный пер., 35, Россия
2Российский государственный геолого-разведочный университет, 117937, Москва, ул. Миклухо-Маклая, 23, Россия
3Институт физической химии и электрохимии им. А.Н. Фрумкина РАН, 119071, Москва, Ленинский просп., 31, корп. 4, Россия
4ООО «Рони Кэроб», 125315, Москва, Ленинградский просп., 69, стр. 1, Россия
Ключевые слова: Природные алмазы, кубический габитус, азотные примеси, ИК-микроспектроскопия, зональность кристаллов, пластические деформации, россыпи
Страницы: 455-466
Подраздел: АЛМАЗЫ И КИМБЕРЛИТОВЫЙ МАГМАТИЗМ
Аннотация
Дефекты в желтовато-зеленых, желтых и оранжевых алмазах кубического габитуса из россыпей северо-востока Сибирской платформы изучены с помощью ИК-спектроскопии. Помимо основных А-, С- и, возможно, В-дефектов в изученных алмазах присутствуют также центры X и Y, полосы 1240, 1270 и 1290-1295 см -1, пики в интервале 1350-1380 см -1, янтарные дефекты разных типов и серия линий в области 3100-3300 см -1. При этом алмазы с различными типами окраски содержат разные ассоциации структурных дефектов, хотя и относятся к одной и той же II разновидности, по классификации Орлова. Согласно интегральным спектрам целых кристаллов, данные алмазы характеризуются невысоким содержанием структурных примесей азота в диапазоне 60-265 ppm. Однако спектроскопическое исследование пластин с пространственным разрешением показало исключительно неоднородное распределение структурных дефектов по объему всех изученных алмазов. Общей закономерностью для них является падение как общего количества азота, так и относительной доли основного А-дефекта от центра к периферии кристалла. В центре кристаллов содержание структурных примесей азота достигает 990 ppm, что превышает среднюю концентрацию азота в широко распространенных октаэдрических кристаллах алмазов. Присутствие С-, Y-, Х-дефектов в большинстве образцов свидетельствует о малой продолжительности постростового отжига этих алмазов. Обсуждается генетическое значение полученных данных о структурных дефектах.
DOI: 10.15372/GiG20150126
|
