СПЕКТРАЛЬНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ МОДЕЛЕЙ ГОЛОГРАФИЧЕСКИХ ФОТОННЫХ КРИСТАЛЛОВ
Е.Ф. Пен, И.Г. Шаталов
Институт автоматики и электрометрии СО РАН, 630090, г. Новосибирск, просп. Академика Коптюга, 1 pen@iae.nsk.su
Ключевые слова: фотонные кристаллы, моделирование, голографическая литография, спектр отражения
Страницы: 84-94 Подраздел: ОПТИЧЕСКИЕ ИНФОРМАЦИОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ
Аннотация
Представлена методика расчёта спектральных характеристик модельных голографических фотонных кристаллов (ФК), в том числе с дефектами пространственной структуры. Основу методики составляют модель многослойной системы тонких диэлектрических плёнок и расчётное распределение показателя преломления структуры ФК вдоль выбранных кристаллографических направлений. Приведены результаты расчётов исследуемых характеристик для различных примеров структур ФК.
Наш сайт использует куки. Продолжая им пользоваться, вы соглашаетесь на обработку персональных данных в соответствии с политикой конфиденциальности. Подробнее