Главная – Журналы – Доклады АН ВШ РФ 2013 номер

В настоящей работе обосновано применение методов вариационного исчисления для исследования свойств нанообъектов. Получены уравнения для расчета параметра порядка тонкой пленки, нанесенной на подложку. Проведены расчеты параметра порядка для когерентной границы подложка – тонкая пленка. Рассмотрен случай, когда материал подложки и материал тонкой пленки имеют фазовый переход второго рода. Проведено сравнение когерентных, полукогерентных и некогерентных границ.