ВАРИАЦИОННЫЙ МЕТОД ИССЛЕДОВАНИЯ НАНООБЪЕКТОВ
Л.А. Борыняк, А.П. Чернышев
Новосибирский государственный технический университет, Новосибирск, Россия
borynyak-leonid@mail.ru
Ключевые слова: тонкие пленки, когерентные границы, параметр порядка
Страницы: 16-25
Аннотация
В настоящей работе обосновано применение методов вариационного исчисления для исследования свойств нанообъектов. Получены уравнения для расчета параметра порядка тонкой пленки, нанесенной на подложку. Проведены расчеты параметра порядка для когерентной границы подложка – тонкая пленка. Рассмотрен случай, когда материал подложки и материал тонкой пленки имеют фазовый переход второго рода. Проведено сравнение когерентных, полукогерентных и некогерентных границ.
|