Издательство СО РАН

Издательство СО РАН

Адрес Издательства СО РАН: Россия, 630090, а/я 187
Новосибирск, Морской пр., 2

soran2.gif

Baner_Nauka_Sibiri.jpg


Яндекс.Метрика 

Array
(
    [SESS_AUTH] => Array
        (
            [POLICY] => Array
                (
                    [SESSION_TIMEOUT] => 24
                    [SESSION_IP_MASK] => 0.0.0.0
                    [MAX_STORE_NUM] => 10
                    [STORE_IP_MASK] => 0.0.0.0
                    [STORE_TIMEOUT] => 525600
                    [CHECKWORD_TIMEOUT] => 525600
                    [PASSWORD_LENGTH] => 6
                    [PASSWORD_UPPERCASE] => N
                    [PASSWORD_LOWERCASE] => N
                    [PASSWORD_DIGITS] => N
                    [PASSWORD_PUNCTUATION] => N
                    [LOGIN_ATTEMPTS] => 0
                    [PASSWORD_REQUIREMENTS] => Пароль должен быть не менее 6 символов длиной.
                )

        )

    [SESS_IP] => 3.149.250.65
    [SESS_TIME] => 1733245706
    [BX_SESSION_SIGN] => 9b3eeb12a31176bf2731c6c072271eb6
    [fixed_session_id] => 7764cc0acc8742cd8020b179165b4095
    [UNIQUE_KEY] => 01a97d28c8c7b8954f531b64c65fb401
    [BX_LOGIN_NEED_CAPTCHA_LOGIN] => Array
        (
            [LOGIN] => 
            [POLICY_ATTEMPTS] => 0
        )

)

Поиск по журналу

Химия в интересах устойчивого развития

2013 год, номер 1

Структурные преобразования технического углерода при воздействии наносекундного лазерного излучения

М. В. ТРЕНИХИН1, О. В. ПРОТАСОВА1, Г. М. СЕРОПЯН2, В. А. ДРОЗДОВ1,3
1Институт проблем переработки углеводородов Сибирского отделения РАН, ул. Нефтезаводская, 54, Омск 644040 (Россия)
tremv@ihcp.ru
2Омский государственный университет им. Ф. М. Достоевского, проспект Мира, 55а, корп. 1, Омск 644077 (Россия)
3Омский научный центр Сибирского отделения РАН, проспект К. Маркса, 15, Омск 644024 (Россия)
Ключевые слова: глобулы технического углерода, протяженность и кривизна графеновых слоев, просвечивающая электронная микроскопия, лазерное облучение
Страницы: 109-114

Аннотация

Методом просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения исследованы особенности структуры и морфологии частиц (глобул) образцов технического углерода (ТУ), как исходных, так и обработанных импульсным лазерным излучением. Проведены измерения и рассчитаны средние расстояния между графеновыми слоями (d002), протяженность и кривизна графеновых слоев в глобулах ТУ. Представлены результаты исследования структурных преобразований в образцах ТУ, облученных наносекундными лазерными импульсами. Изменение среднего диаметра глобул в образцах ТУ определяет сущест-венное различие в морфологии облученных наночастиц и в параметре d002 кристаллической решетки.
Скачать pdf-версию статьи