Войти на сайт / Зарегистрироваться
В. Н. Харитонова1, В. И. Зоркальцев2 1 ИЭОПП СО РАН2 ИСЭМ СО РАНkharit@ieie.nsc.ru , zork@isem.sei.irk.ru Страницы: 284-291 Скачать pdf-версию статьи