Напряженное состояние в окрестности наклонного эллиптического дефекта и коэффициенты интенсивности напряжений при двухосном нагружении пластины
А. А. Остсемин, П. Б. Уткин*
ООО “Южно-Уральский научно-производственный центр”, 450019 Челябинск
*Южно-Уральский государственный университет, 454080 Челябинск
E-mail: shum@math.susu.ac.ru
Ключевые слова: механика разрушения, коэффициенты интенсивности напряжений, метод Колосова—Мусхелишвили, напряженное состояние, пластина с наклонным эллиптическим вырезом, метод голографической интерферометрии
Страницы: 118-127
Аннотация
Рассматривается задача определения напряженного состояния пластины с наклонным эллиптическим вырезом при двухосном нагружении. Методом Колосова—Мусхелишвили получено выражение для напряжений вблизи вершины наклонного эллипса, из которого в частном случае получаются выражения для напряжений в случае наклонной трещины. Методом голографической интерферометрии экспериментально определены коэффициенты интенсивности напряжений KI и K>sub>II в случае растяжения пластины с наклонным трещиноподобным дефектом. Проведено сравнение результатов расчетов с экспериментальными данными.
|
