Исследование погрешности бинокулярного триангуляционного метода контроля технических поверхностей
Е. А.Титова, А. Н. Байбаков, В. Плотников
Конструкторско-технологический институт научного приборостроения СО РАН, Новосибирск, E-mail: splot@tdisie.nsc.ru
Страницы: 40-44 Подраздел: ОПТИЧЕСКИЕ ИНФОРМАЦИОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ, ЭЛЕМЕНТЫ И СИСТЕМЫ
Аннотация
Исследован метод повышения точности триангуляционных измерений, который основан на регистрации рассеянного излучения с двух направлений и реализован с использованием второго симметричного приемного канала. Рассмотрено влияние микропрофиля поверхности на пространственную погрешность измерений. Приведены результаты экспериментальных исследований зависимости погрешности триангуляционных измерений от ориентации следов обработки на поверхности контроля.
Наш сайт использует куки. Продолжая им пользоваться, вы соглашаетесь на обработку персональных данных в соответствии с политикой конфиденциальности. Подробнее