Издательство СО РАН

Издательство СО РАН

Адрес Издательства СО РАН: Россия, 630090, а/я 187
Новосибирск, Морской пр., 2

soran2.gif

Baner_Nauka_Sibiri.jpg


Яндекс.Метрика

Array
(
    [SESS_AUTH] => Array
        (
            [POLICY] => Array
                (
                    [SESSION_TIMEOUT] => 24
                    [SESSION_IP_MASK] => 0.0.0.0
                    [MAX_STORE_NUM] => 10
                    [STORE_IP_MASK] => 0.0.0.0
                    [STORE_TIMEOUT] => 525600
                    [CHECKWORD_TIMEOUT] => 525600
                    [PASSWORD_LENGTH] => 6
                    [PASSWORD_UPPERCASE] => N
                    [PASSWORD_LOWERCASE] => N
                    [PASSWORD_DIGITS] => N
                    [PASSWORD_PUNCTUATION] => N
                    [LOGIN_ATTEMPTS] => 0
                    [PASSWORD_REQUIREMENTS] => Пароль должен быть не менее 6 символов длиной.
                )

        )

    [SESS_IP] => 44.200.77.59
    [SESS_TIME] => 1711665420
    [BX_SESSION_SIGN] => 9b3eeb12a31176bf2731c6c072271eb6
    [fixed_session_id] => bf9252ee312f7907b9c6108890c65108
    [UNIQUE_KEY] => d9bbf1272254f6e0dd5c389d16e470a8
    [BX_LOGIN_NEED_CAPTCHA_LOGIN] => Array
        (
            [LOGIN] => 
            [POLICY_ATTEMPTS] => 0
        )

)

Поиск по журналу

Журнал структурной химии

2009 год, номер 2

ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ПРОТЯЖЕННЫХ ТОНКИХ СТРУКТУР СПЕКТРОВ ЭНЕРГЕТИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ ЭЛЕКТРОНОВ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ АТОМНЫХ ПАРНЫХ КОРРЕЛЯЦИЙ В ОКСИДНЫХ ПЛЕНКАХ НИКЕЛЯ

Д. Е. Гай1, О. Р. Бакиева2, А. Н. Деев3, Ф. З. Гильмутдинов4
1 Физико-технический институт УрО РАН, lasas@fti.udm.ru
2 Физико-технический институт УрО РАН, lasas@fti.udm.ru
3 Физико-технический институт УрО РАН, lasas@fti.udm.ru
4 Физико-технический институт УрО РАН, lasas@fti.udm.ru
Ключевые слова: электронная спектроскопия, спектры энергетических потерь электронов, атомная парная корреляционная функция
Страницы: 275-282

Аннотация

Получены спектры протяженных тонких структур энергетических потерь электронов (EELFS) с поверхностей чистого никеля (M2,3 EELFS) стехиометрической оксидной пленки NiO (M2,3 EELFS-спектры никеля и K EELFS-спектры кислорода) и ″негомогенной″ оксидной пленки на поверхности никеля Ni-O (M2,3 EELFS-спектры никеля и K EELFS-спектры кислорода). С учетом мультипольности процесса возбуждения внутренних уровней атомов электронным ударом проведены расчеты амплитуд и интенсивностей процессов электронных переходов для соответствующих внутренних уровней атомов. По результатам расчетов из экспериментальных EELFS спектров выделены соответствующие нормированные осциллирующие части. Хорошее соответствие экспериментальных данных и теоретических расчетов (на тестовых объектах Ni и NiO) показало, что использованные теоретические подходы и результаты расчетов для описания EELFS-спектров являются хорошим приближением. Используя результаты проведенных расчетов и параметры упругого рассеяния вторичного электрона (данные FEEF-8), методами регуляризации по Тихонову получены атомные парные корреляционные функции из экспериментальных нормированных осциллирующих частей EELFS-спектров.