Издательство СО РАН

Издательство СО РАН

Адрес Издательства СО РАН: Россия, 630090, а/я 187
Новосибирск, Морской пр., 2

soran2.gif

Baner_Nauka_Sibiri.jpg


Яндекс.Метрика

Array
(
    [SESS_AUTH] => Array
        (
            [POLICY] => Array
                (
                    [SESSION_TIMEOUT] => 24
                    [SESSION_IP_MASK] => 0.0.0.0
                    [MAX_STORE_NUM] => 10
                    [STORE_IP_MASK] => 0.0.0.0
                    [STORE_TIMEOUT] => 525600
                    [CHECKWORD_TIMEOUT] => 525600
                    [PASSWORD_LENGTH] => 6
                    [PASSWORD_UPPERCASE] => N
                    [PASSWORD_LOWERCASE] => N
                    [PASSWORD_DIGITS] => N
                    [PASSWORD_PUNCTUATION] => N
                    [LOGIN_ATTEMPTS] => 0
                    [PASSWORD_REQUIREMENTS] => Пароль должен быть не менее 6 символов длиной.
                )

        )

    [SESS_IP] => 54.226.155.151
    [SESS_TIME] => 1711723546
    [BX_SESSION_SIGN] => 9b3eeb12a31176bf2731c6c072271eb6
    [fixed_session_id] => 0481c634fe2a821dfc3932bfa44c7994
    [UNIQUE_KEY] => 4937f6a31f25153c9172c9de20083490
    [BX_LOGIN_NEED_CAPTCHA_LOGIN] => Array
        (
            [LOGIN] => 
            [POLICY_ATTEMPTS] => 0
        )

)

Поиск по журналу

Автометрия

2011 год, номер 4

ИССЛЕДОВАНИЕ ХАРАКТЕРИСТИК СИСТЕМЫ ПОЛЯРИЗАЦИОННО-ОПТИЧЕСКОЙ РЕГИСТРАЦИИ ИМПУЛЬСНОГО ТЕРАГЕРЦОВОГО СПЕКТРОМЕТРА

А. А. Мамрашев1,2, О. И. Потатуркин1,2
1Учреждение Российской академии наук Институт автоматики и электрометрии Сибирского отделения РАН
2Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Новосибирский государственный университет»
mamrashev@iae.nsk.su, potaturkin@iae.nsk.su
Ключевые слова: терагерцовая спектроскопия, поляризационно-оптическая регистрация
Страницы: 16-22

Аннотация

Рассмотрены характеристики системы поляризационно-оптической регистрации импульсного терагерцового спектрометра в нелинейных кристаллах теллурида цинка (ZnTe). Экспериментально исследовано влияние толщины кристаллов ZnTe (0,5, 1 и 2 мм) на чувствительность системы регистрации, проведено сравнение с модельными расчётами. Экспериментально и теоретически показано влияние временнóго шага и диапазона сканирования терагерцового импульса на спектральное разрешение и диапазон спектрометра. Измерены терагерцовые спектры пропускания типичных контейнерных материалов.