МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ ОСНОВНЫХ ПАРАМЕТРОВ ЦИФРОВЫХ ЗАЩИТНЫХ ГОЛОГРАММ ДЛЯ ЭКСПЕРТНОГО АНАЛИЗА И ОПЕРАТИВНОГО КОНТРОЛЯ ИХ КАЧЕСТВА
В.П. Бессмельцев, В.В. Вилейко, М.В. Максимов
Институт автоматики и электрометрии СО РАН, Новосибирск, Россия
bessmelt@iae.nsk.su
Ключевые слова: дифракционная решётка, голопиксель, цифровая голограмма, контроль подлинности, diffraction grating, holopixel, digital hologram, identity verification
Страницы: 20-33
Аннотация
Разработаны метод и устройство измерения основных параметров синтезированных защитных голограмм с использованием возможностей микроскопии микронного разрешения и дифрактометрии с мультиугловой системой освещения. При последовательном освещении под различными углами коллимированными монохроматическими источниками света поверхности голограммы в поле наблюдения специального цифрового микроскопа и обработке полученных изображений формируется информационная карта поверхности, которая содержит данные об основных параметрах «голопикселей», составляющих структуру защитной голограммы (шаге дифракционных решёток, их угловой ориентации, нормированной интенсивности отражённого света), а также совмещённое с указанной картой изображение поверхности голограммы в рассеянном свете. Перемещениями исследуемой голограммы в плоскости фокуса цифрового микроскопа на расстояние, равное полю наблюдения микроскопа, с последующей «сшивкой» полученных данных достигается построение информационной карты всей поверхности голограммы с микронным разрешением.
DOI: 10.15372/AUT20200202 |
