АНАЛИТИЧЕСКИЙ ОБЗОР ДВУХСИГНАЛЬНЫХ МЕТОДОВ ИЗМЕРЕНИЯ S-ПАРАМЕТРОВ ЧЕТЫРЁХПОЛЮСНИКОВ
"С.В. Савелькаев1, В.А. Литовченко2, Н.В. Заржецкая1"
"1Сибирский государственный университет геосистем и технологий, Новосибирск, Россия
sergei.savelkaev@yandex.ru
2Новосибирское высшее военное командное училище, Новосибирск, Россия
litovchienko.vladimir@mail.ru"
Ключевые слова: S-параметры, транзистор, адекватное измерение, имитатор-анализатор, математическая модель, калибровка, сверхвысокочастотный усилитель и автогенератор, S-parameters, transistor, adequate measurement, simulator/analyzer, mathematical model, calibration, microwave amplifiers and oscillators
Страницы: 36-47
Аннотация
Рассмотрены двухсигнальный и модифицированный двухсигнальный методы измерения S-параметров пассивных четырёхполюсников, а также разработанный на их основе метод адекватного измерения S-параметров активных четырёхполюсников, например транзисторов. Методы реализуются коаксиальным имитатором-анализатором сверхвысокочастотных усилителей и автогенераторов в согласованных и рассогласованных с нагрузками его измерительных каналах. Рассмотрен способ калибровки имитатора-анализатора, обеспечивающий нормировку результатов измерения микрополосковому тракту. Исследованы область применения и взаимосвязь рассматриваемых методов с указанием их преимуществ и недостатков. Приведены данные о погрешности измерения этих методов.
DOI: 10.15372/AUT20190605
|
